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差示掃描量熱儀是(shi)在(zai)程(cheng)序(xu)控(kong)製(zhi)溫(wen)度(du)下(xia),研(yan)究(jiu)不(bu)同(tong)材(cai)料(liao)的(de)熱(re)流(liu)變(bian)化(hua)與(yu)溫(wen)度(du)或(huo)時(shi)間(jian)關(guan)係(xi)的(de)熱(re)分(fen)析(xi)儀(yi)器(qi),可(ke)用(yong)於(yu)測(ce)量(liang)材(cai)料(liao)的(de)在(zai)一(yi)定(ding)溫(wen)度(du)下(xia),發(fa)生(sheng)的(de)物(wu)理(li)或(huo)化(hua)學(xue)反(fan)應(ying),從(cong)而(er)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi),可(ke)進(jin)行(xing)材(cai)料(liao)的(de)玻(bo)璃(li)化(hua)轉(zhuan)變(bian)溫(wen)度(du)、結晶度、反應熱焓、熔點、比熱熔和氧化誘導期等測試。

對於很多高校的化學、材(cai)料(liao)等(deng)實(shi)驗(yan)室(shi)來(lai)說(shuo),需(xu)要(yao)借(jie)助(zhu)差(cha)示(shi)掃(sao)描(miao)量(liang)熱(re)儀(yi)對(dui)材(cai)料(liao)進(jin)行(xing)分(fen)析(xi),通(tong)過(guo)得(de)出(chu)的(de)數(shu)據(ju)進(jin)行(xing)研(yan)究(jiu),實(shi)踐(jian)和(he)理(li)論(lun)的(de)結(jie)合(he),才(cai)能(neng)更(geng)好(hao)的(de)理(li)解(jie)和(he)吸(xi)收(shou)這(zhe)些(xie)知(zhi)識(shi)點(dian)。這(zhe)次(ci)皖(wan)西(xi)學(xue)院(yuan)采(cai)購(gou)的(de)是(shi)南(nan)京(jing)大(da)展(zhan)DZ-DSC300C低溫差示掃描量熱儀,可進行-40~600℃的溫度測試,采用是半導體製冷,降溫速度快,可大大提升實驗的效率,同時精度高,可設置不同溫度升溫、恒溫、降溫,實時采集圖譜進行數據分析。
國產的差示掃描量熱儀從品質到性能,在不斷的進行升級和創新,科技在進步,我們正在縮短與進口儀器的差距,然後進行超越,南京大展zuoweiguochanchashisaomiaoliangreyidechangjia,womenyangebawoyiqideshengchan,dalitouruyanjiu,buduandegaishanheyouhuayiqidexingneng,nuliweikehutigongyouzhideyiqi。

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